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HALT/HASS试验室测试
时间:2017-03-07T14:03:26 | 阅读:1264

HALT(High Accelerated Life Testing)/HASS(High Accelerated Stress Screen)是ESS 发展的一个重要方向,目的是通过增加应力水平,在最短的时间内寻找产品缺陷,并采取纠正措施以提高产品的可靠性。

HALT概述

HALT不是Pass/Fail测试. HALT是一种发现缺陷的工序,它通过设置逐级递增的加严的环境应力,来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱点,而后对暴露的缺陷和故障从设计、 工艺和用料等诸方面进行分析和改进,从而达到提升可靠性的目的,最大的特点是设置高于样品 设计运行限的环境应力,从而使暴露故障的时间大大短于正常可靠性应力条件下的所需时间。

HASS概述

HASS是产品通过HALT试验得出操作或破坏极限值后在生产线上做高加速应力筛选。要求100%的产品参加筛选。其目的是为了 使得生产的产品不存在任何隐含的缺陷或者至少在产品还没有出厂前找到并解决这些缺陷,HASS就是通过加速应力方式以期在短时间内找到有缺陷的产品,缩短纠正措施的周期,并找到具有同样问题的产品。

简单地讲:在产品的研制阶段和生产阶段应用HALT/HASS,可显著缩短产品的研制周期,提高产品可靠性和健壮性,增强产品市场竞争力。在研制阶段进行的HALT,是发现设计薄弱环节、确定产品极限应力的有效手段,为生产阶段进行HASS 打下基础,保障保证产品在高应力下的筛选不致造成永久性损伤。HALT 可以采用单应力,也可采用综合应力,应力类型一般为温度循环、随机振动和温度,与传统ESS 相比,温度范围更宽,温变率更高、随机振动量级更高,也可以先进行单项应力的HALT,再进行综合温度循环和振动应力的HALT,如果试验中发现的产品缺陷都得到改正,产品的设计就可达到非常可靠的程度。在生产阶段进行的HASS,可以是单项应力或综合应力,应力水平主要根据HALT 的极限应力结果确定,在保证不消耗过多寿命的前提下,在短时间内尽量剔除由工艺、元器件引起的缺陷,消除早期缺陷。

设计HALT和HASS的目的是提高产品的可靠性,而不是衡量产品可靠性的水平。与只是衡量产品可靠性水平而完全不能提高产品可靠性的可靠性验证和平均失效时间相比,这种方法更积极,这也是HALT和传统方法最主要的区别。